Skip to search formSkip to main contentSkip to account menu

DUT board

Known as: DIB, Device Interface Board 
DUT boards are used in automated integrated circuit testing where the term DUT stands for device under test, referring to the circuit being tested. A… 
Wikipedia (opens in a new tab)

Related topics

Related topics

3 relations
Device under testIntegrated circuitPrinted circuit board

Papers overview

Semantic Scholar uses AI to extract papers important to this topic.
2015
2015
Evolución de la imagen publicitaria de Rafa Nadal
S'exposa l'evolucio de la imatge publicitaria i els valors que transmet Rafa Nadal en dos sectors diferents, el de l'automocio i… 
2014
2014
Diseño de una instalación solar fotovoltaica para un edificio de uso público
Al present projecte s’explicara de manera detallada les caracteristiques d’una instal·lacio fotovoltaica, al mateix temps que la… 
2012
2012
Türk Kültüründe Ağaç Kültü ve Dut Ağacı
Turklerde onemli bir yeri olan tabiata ait unsurlarin tespiti ve bunlarin cesitli motifler hâlinde gelecek nesillere aktarimi… 
2011
2011
Acompanyament al professorat novell: avaluació d'un programa per a la construcció del coneixement professional
L’objectiu principal d’aquesta recerca es avaluar l’eficacia d’un programa dissenyat per pal•liar el xoc de realitat i fomentar… 
2009
2009
Teledetecció de l’estructura i de l’estat fisiològic de la vinya a nivell de coberta i aèria: prospecció d’indicadors de rendiment i qualitat del raïm(Vitis vinifera cv. Chardonnay)
Aquest treball es continuacio del presentat en 2008 per Roser Catasus Colome i Carles Fernandez Gotzens (estudiants de l… 
2009
2009
Treatment choice for common bile dut stone in minimally surgery:LCBOE or EST
Objective To compare the outcome and total expense of laparascopic common bile duct exploration(LCBOE) and endoscopic… 
2008
2008
Projecte de les instal·lacions d'energia solar tèrmica i reciclatge d'aigües grises per a una vivenda unifamiliar situada al Bages
Actualment la societat es troba en un moment crític, cada dia som més conscients de que la nostra activitat diària afecta al medi… 
2004
2004
Semiconductor device test equipment and device interface board
First and second contacts provided with first and second contact terminal groups capable of connecting first through third type… 
2001
2001
Mechanism for clamping device interface board to peripheral
A mechanism for attaching a device interface board (DIB) to a surface of a test head or peripheral includes first and second… 
1998
1998
A scalable architecture for VLSI test
The higher bandwidth of new embedded core components is increased by using two methods. The event frequency is increased by…