Одна из проблем, с которой сталкиваются производители и пользователи сканирующих зондовых и электронных микроскопов, а также других приборов для измерения геометрии объектов в нанодиапазоне – сложность калибровки из-за отсутствия стандартизированных наноразмерных мер и эталонов. Российская компания "НАНО-АТТО Метрия" предложила оригинальное решение, основанное на применении пьезокристаллов (см. также статью "Стандарты нанои пикометрового диапазонов на основе мер перемещения" ("Наноиндустрия", 2015, 5(59)). Об этой разработке рассказал руководитель проекта Петр Николаевич Лускинович. One of the problems faced by producers and users of scanning probe and electron microscopes, and other devices for measuring the geometry of objects at the nanoscale is the difficulty in calibration due to the lack of nanoscale standardized measures and gauges. The Russian company Nano-Atto Metria offered an original solution based on the use of piezoelectric crystals (see also the article “Standards for nanoand picometer ranges on the basis of displacement gauges”, Nanoindustry, No.5(59), 2015). The project manager Petr Luskinovich told about this development.