Testmöglichkeiten für LSI-Schaltkreise

@article{Grke1978TestmglichkeitenFL,
  title={Testm{\"o}glichkeiten f{\"u}r LSI-Schaltkreise},
  author={Winfried G{\"o}rke},
  journal={Elektronische Rechenanlagen},
  year={1978},
  volume={20},
  pages={220-227}
}
Ausgehend von den in der Literatur erwähnten Ansätzen zum Testen von LSI-Schaltkreisen werden die Probleme und Möglichkeiten diskutiert. Dabei steht die neuere Entwicklung im Vordergrund, daß nicht mehr generell auf die interne Schaltungsstruktur zurückgegriffen werden kann, sondern vielfach auf funktionelle Testansätze ausgewichen werden muß. Für den Mikroprozessor 8080 wird gezeigt, wie ein solches Funktionstestprogramm entwickelt werden kann. Für Speicherbausteine werden ebenfalls… CONTINUE READING

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Mikroprozessor-Selbsttest auf der Basis des Befehlssatzes

Elektronische Rechenanlagen • 1982
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Testbarkeit von Schutzsystemen

Fehlertolerierende Rechensysteme • 1982

References

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Exercising the functional structure gives microprocessors a real workout

D. H. Smith
Febr • 1977
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Checking out semiconductor memories for electronic switching systems

C. W. Green
Bell laboratories record, • 1977
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Praktische und meßtechnische Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern

D. Fischer
NTG Fachberichte • 1977
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Α.: Testing of semiconductor randomaccess memories

S. M. Thatte, J. Abraham
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A flexible approach to microprocessor testing

B. Schusheim
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An implementation of computer-aided test generation techniques

R. W. Rozeboom
Proc. 13th Design automation conf • 1976
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Fehlerdiagnose an digitalen Schaltungen mit Methoden der Stochastik

H. O. Flabb
Diss. Fakultät für Elektrotechnik • 1976
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Focus on IC testers

S. Runyon
Electronic Design • 1976
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Referenceless random testing

J. Losq
Proc. 6th Int. Symp. faulttolerant computing, • 1976
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