Corpus ID: 194018581

Mémoires embarquées non volatiles à grille flottante : challenges technologiques et physiques pour l’augmentation des performances vers le noeud 28nm

@inproceedings{Dobri2017MmoiresEN,
  title={M{\'e}moires embarqu{\'e}es non volatiles {\`a} grille flottante : challenges technologiques et physiques pour l’augmentation des performances vers le noeud 28nm},
  author={A. Dobri},
  year={2017}
}
  • A. Dobri
  • Published 2017
  • Art
  • Les memoires flash sont integrees dans presque tous les aspects de la vie moderne car leurs uns et zeros representent les donnees stockees sur les cartes a puce et dans les capteurs qui nous entourent. Dans les memoires flash a grille flottante ces donnees sont representees par la quantite de charge stockee sur une grille en poly-Si, isolee par un oxyde tunnel et un dielectrique entre grilles (IGD). Au fur et a mesure que les chercheurs et les ingenieurs de l'industrie microelectronique… CONTINUE READING

    References

    SHOWING 1-10 OF 59 REFERENCES
    Gate Oxide Reliability: Physical and Computational Models
    • 16
    • PDF
    A new reliability model for post-cycling charge retention of flash memories
    • 104
    Performance and Reliability of 2-Transistor FN/FN Flash Arrays with Hafnium Based High-K Inter-Poly Dielectrics for Embedded NVM
    • 12