Konturenverhalten im Muster-VEP

Abstract

Wie von zahlreichen Autoren gezeigt wurde, steht die Amplitude der visuell evozierten kortikalen Potentiale (VEP) auf periodische Musterreize in Abhängigkeit vom Kontrast. Der Kontrast dieser Reize wird dabei als D1 − D2/D1 + D2 definiert. Unter der Bedingung gleichen Kontrasts und gleicher mittlerer Helligkeit ist die retinale und kortikale Analyse periodischer Musterreize jedoch konturabhängig. Diese Konturanalyseeigenschaften wurden bei fünf normalsichtigen Patienten mittels VEP-Messung auf Schachbrett- und Streifenmusterreize untersucht. Die Reize wurden in einem zentralen Feld von fünf Sehwinkelgraden und in einem Feld von 17mal 15 Grad mit und ohne Ausblendung der zentralen fünf Grad präsentiert. Deutliche Konturanalyseeigenschaften lassen sich mittels der Bildung eines Quotienten der kortikalen Antworten auf Schachbrettmuster und sinusoidale Streifenmuster innerhalb eines zentralen Fünf-Grad-Feldes demonstrieren. Dieser Quotient erlaubt somit eine verläßliche Beschreibung der Konturanalyseeigenschaften des visuellen Systems als eine Funktion der zentralen Netzhaut. Bei allen VEP-Messungen wurde ein Schachbrett-/Streifenmuster-(sinusförmig)-Quotient von 2:1 bei einer Raumfrequenz von zwei Zyklen/Grad gefunden. Änderungen dieses Quotienten werden bei Patienten mit Amblyopien erwartet. As shown by numerous authors, the amplitude of visually evoked cortical potentials (VEP) elicited by periodic pattern stimuli depends upon contrast. Contrast of these stimuli is commonly determined by D1 − D2/D1 + D2. However, by means of constant contrast and constant mean luminance retinal and cortical analysis of periodic pattern stimuli depends upon countour. This analysis of contour was studied by measurement of VEPs in five normally sighted patients using checkerboard and bar patterns. Stimuli were presented at central fields of 5 degrees as well as at fields of 17 to 15 degrees visual angle with and without a blanked center of five degrees. Particularly contour analysis can be demonstrated by the ratio of cortical responses evoked by checkerboard stimuli and sinusoidal bar patterns in the central five degree-field. Thereby, this ratio provide us to describe reliably the mode of contour anaylsis in the visual system as a function of the central retina. In all cases of VEP measurements a checkerboard-vs-bar pattern (sinusoidal) ratio of 2:1 was found at a spatial frequency of 2,0 cycles/deg. Alterations of this ratio are expected to exist in patients suffering from amblyopia.

DOI: 10.1007/BF03163355

Cite this paper

@article{Priglinger2009KonturenverhaltenIM, title={Konturenverhalten im Muster-VEP}, author={Siegfried Priglinger}, journal={Spektrum der Augenheilkunde}, year={2009}, volume={4}, pages={27-32} }