전원회로의 온 오작동 검출장치

@inproceedings{2006,
  title={전원회로의 온 오작동 검출장치},
  author={순조우 오시마},
  year={2006}
}
  • 순조우 오시마
  • Published 2006
본 발명의 온 오작동(ON Failure) 검출장치는 배터리(E)와 부하(RL) 간에 배치되는 FET(T1)를 포함하여 이 부하(RL)의 구동 및 정지를 제어하는 전원회로에서 FET(T1)의 온 오작동을 검출하며, FET(T1)의 온 및 오프를 스위칭하는 구동전압(VD)을 FET(T1)의 게이트에 공급하는 구동회로(1)와, 구동회로(1)와 FET(T1)의 게이트 간에 배열된 게이트 저항(Rg)과, 게이트 저항(Rg)에서 발생된 전압강하가 소정의 값을 초과하였나의 여부를 검출하고, 게이트 저항(Rg)의 전압강하가 소정의 값을 초과한 경우 FET(T1)에서 온 오작동이 발생하는 것임을 판정하는 온 오작동 판정 회로(11)를 구비한다. 온 오작동(ON Failure), 소자FET