Learn More
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, A. Ageev, B. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Araya, H. Armandula, F. Asiri, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, R. Balasubramanian, S. Ballmer, B. C. Barish, D. Barker, C. Barker-Patton, M. Barnes, B. Barr, M. A. Barton, K. Bayer, R. Beausoleil, K. Belczynski, R. Bennett, S. J. Berukoff, J. Betzwieser, B.(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, J. Agresti, P. Ajith, B. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Arain, M. Araya, H. Armandula, M. Ashley, S. Aston, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, S. Ballmer, H. Bantilan, B. C. Barish, C. Barker, D. Barker, B. Barr, P. Barriga, M. A. Barton, K. Bayer, K. Belczynski, J. Betzwieser, P. T. Beyersdorf, B.(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, A. Ageev, B. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Araya, H. Armandula, F. Asiri, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, R. Balasubramanian, S. Ballmer, B. C. Barish, D. Barker, C. Barker-Patton, M. Barnes, B. Barr, M. A. Barton, K. Bayer, R. Beausoleil, K. Belczynski, R. Bennett, S. J. Berukoff, J. Betzwieser, B.(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, A. Ageev, J. Agresti, P. Ajith, B. Allen, J. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Araya, H. Armandula, M. Ashley, F. Asiri, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, R. Balasubramanian, S. Ballmer, B. C. Barish, C. Barker, D. Barker, M. Barnes, B. Barr, M. A. Barton, K. Bayer, R. Beausoleil, K. Belczynski, R.(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, A. Ageev, B. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Araya, H. Armandula, M. Ashley, F. Asiri, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, R. Balasubramanian, S. Ballmer, B. C. Barish, C. Barker, D. Barker, M. Barnes, B. Barr, M. A. Barton, K. Bayer, R. Beausoleil, K. Belczynski, R. Bennett, S. J. Berukoff, J. Betzwieser,(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, A. Ageev, J. Agresti, B. Allen, J. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Araya, H. Armandula, M. Ashley, F. Asiri, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, R. Balasubramanian, S. Ballmer, B. C. Barish, C. Barker, D. Barker, M. Barnes, B. Barr, M. A. Barton, K. Bayer, R. Beausoleil, K. Belczynski, R. Bennett, S. J.(More)
B. Abbott, R. Abbott, R. Adhikari, J. Agresti, P. Ajith, B. Allen, R. Amin, S. B. Anderson, W. G. Anderson, M. Arain, M. Araya, H. Armandula, M. Ashley, S Aston, P. Aufmuth, C. Aulbert, S. Babak, S. Ballmer, H. Bantilan, B. C. Barish, C. Barker, D. Barker, B. Barr, P. Barriga, M. A. Barton, K. Bayer, K. Belczynski, S. J. Berukoff, J. Betzwieser, P. T.(More)
We have proposed the on-line signature verification method in the DWT domain in which a pen-position parameter is decomposed into sub-band signals and then they are verified using adaptive signal processing. Even when forgers trace genuine signatures, higher verification rate can be obtained compared with a time-domain verification method. Other parameters(More)
Using Fourier Sine Series Expansion Y. Kinugasa, M. Kobayashi, Chi WANG , and Y. Itoh Department of Electrical Engineering, Matsue College of Technology, Japan College of Engineering, Chubu University, Kasugai, 487-8501, Japan Faculty of Engineering, Tottori University, Tottori, 680-8552, Japan 1 14-4, Nishi-ikumacho, Matsue-shi, Shimane 690-8518 Japan 1200(More)