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  • S. Mourad
  • 1990
After a brief recap of problem areas in sequential circuit testing different approaches to testing sequential circuits are reviewed. Both synchronous and asynchronous circuits are considered. Examples are given from the following areas: (1) functional techniques, such as the checking experiment, and its extension to built-in self-test (BIST) testing and to(More)
RRsumm. Le formalisme multifractal a tt prouvv pour les fonctions autosimilaires pour les exposants de HHlder inffrieurs la rrgularitt globale de la fonction d'erreur g. On se propose d''tudier le probllme pour les exposants de HHlder supprieurs. On montre qu'il y a plusieurs changements au niveau de la nature fractale et la validitt du formalisme(More)
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