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Attachement électronique dissociatif sur C2H2 et C2D2
Quatre pics d'ions negatifs sont observes en fonction de l'energie des electrons incidents, dans l'etude de l'attachement dissociatif par impact electronique sur C2H 2 et C2D2, avec un appareil aExpand
Attachement électronique dissociatif sur HCI et DCI
2014 The formation of negative ions in HCI and DCI is studied with a total ionization chamber. In addition to the already well established peak of CIions, two other peaks are observed at 6.9 and 9.2Expand